更新時(shí)間：2024-09-03
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廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址：以色列
一、近場輪廓分析儀
近場分析還可與相機(jī)分析器一起使用，以分析小光束，并涉及顯微鏡物鏡將光束成像到相機(jī)檢測器陣列上。該技術(shù)擴(kuò)展了相機(jī)的測量范圍，以包括較小的光束，由于檢測器陣列的像素大小，通常無法測量較小的光束。近場分析用于光纖和波導(dǎo)分析、鏡頭特性分析以及分析 50 微米或更小光束的其他應(yīng)用。雖然有更精確的技術(shù)來測量這些光束尺寸，但相機(jī)提供的二維信息無法通過刀口或掃描狹縫方法獲得。此相機(jī)配件包括用于安裝相機(jī)和顯微鏡物鏡的底板、ATP-K 可變衰減器、50 毫米 C 型安裝座以及 8 毫米和 5 毫米墊片。用戶可選放大鏡頭、相機(jī)和 BeamGage 必須單獨(dú)購買。測試光束或樣品的近場通過顯微鏡物鏡成像并傳送到相機(jī)。
● C 型接口相機(jī)的顯微鏡附件
● 聚焦激光束的束腰
● 10X、20X、40X 和 60X 顯微鏡物鏡
二、規(guī)格參數(shù)
| 型號(hào) | 描述 | 能量 | 有效焦距（mm） | 視場 (mm) | 工作距離（mm） | NA |
| C-NFP Assy | 包括用于安裝相機(jī)和顯微鏡物鏡的底板、ATP-K 可變衰減器、50 毫米 C 型接口以及 8 毫米和 5 毫米墊片 | |||||
| 60X | 60X，顯微鏡物鏡 | 60X | 3.21 | 0.30 | 0.15 | 0.85 |
| 40X | 40X，顯微鏡物鏡 | 40X | 4.35 | 0.45 | 0.60 | 0.65 |
| 20X | 20X，顯微鏡物鏡 | 20X | 8.33 | 0.90 | 3.75 | 0.40 |
| 10x | 10X，顯微鏡物鏡 | 10X | 17.02 | 1.80 | 4.40 | 0.25 |
近場光束輪廓分析C-NFP Assy
近場光束輪廓分析C-NFP Assy
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