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硅探測(cè)器狹縫掃描式光束輪廓分析儀

硅探測(cè)器狹縫掃描式光束輪廓分析儀

簡(jiǎn)要描述:
NS2s-SI/3.5/1.8-STD硅探測(cè)器狹縫掃描式光束輪廓分析儀,精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。

更新時(shí)間:2024-09-03

訪問量:384

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

生產(chǎn)地址:以色列

一、NS2s-SI/3.5/1.8-STD光束輪廓分析儀

NS2s-SI/3.5/1.8-STD硅探測(cè)器狹縫掃描式光束輪廓分析儀,精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。

● 光束尺寸7µm至~2.3mm

● 功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

● USB 2.0接口

● 包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件

二、NS2s-SI/3.5/1.8-STD光束輪廓分析儀規(guī)格參數(shù)

型號(hào)NS2s-SI/3.5/1.8-STD
傳感器類型
通信接口USB 2.0
光譜范圍190-1100 nm
狹縫尺寸1.8 µm
孔徑尺寸3.5 mm
光束尺寸7 µm - 2.3 mm
掃描頭尺寸83 mm
功率范圍10 nW - 10 W
軟件NanoScan標(biāo)準(zhǔn)版
兼容的光源CW, Pulsed >25 kHz
CE符合
UKCA符合
RoHS符合
PN碼PH00456

三、類似型號(hào)

NanoScan 2s Si/9/5

● 光束尺寸20µm至~6mm

● 功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

NanoScan 2s Ge/3.5/1.8

● 光束尺寸7µm至~2.3mm

● 功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

NanoScan 2s Ge/9/5

● 光束尺寸20µm至~6mm

● 功率級(jí)范圍為~10nW至~10W

NanoScan 2s Pyro/9/5

● 光束尺寸20µm至~6mm

● 功率級(jí)范圍為~5mW至~100W

四、常見問題

1、NanoScan 中的探測(cè)器在哪里?

探測(cè)器安裝在 NanoScan 內(nèi)部,位于旋轉(zhuǎn)狹縫后面。此位置對(duì)測(cè)量并不重要。測(cè)量平面是狹縫的掃描平面,標(biāo)稱距離 NanoScan 正面的參考面 0.74 毫米 ±0.025 毫米。請(qǐng)參閱 NanoScan 操作手冊(cè)附錄 B 中的機(jī)械圖紙。

2、為什么不建議使用硅納米掃描儀進(jìn)行 1064 nm 光束測(cè)量?

硅探測(cè)器對(duì)波長大于 1000 nm 的近紅外光非常透明。如果用它來測(cè)量這些光束,您通常會(huì)看到拖尾輪廓,因?yàn)樾盘?hào)衰減得不夠快。這會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)果。我們建議對(duì)這些波長使用鍺探測(cè)器,或者如果功率足夠,則使用熱釋電探測(cè)器。

3、設(shè)置 NanoScan 輪廓儀并獲取光束后,為什么輪廓會(huì)來回反彈?

這通常是由自動(dòng) ROI 選擇引起的。獲取光束后,您應(yīng)該在 ROIs 菜單中取消選中自動(dòng) ROI,這樣光束就會(huì)穩(wěn)定下來。

4、NanoScan 狹縫會(huì)使光束發(fā)生衍射嗎?

是的,但由于 NanoScan 根據(jù)狹縫位置測(cè)量探測(cè)器上的所有光,因此這不會(huì)影響測(cè)量結(jié)果。

5、 NanoScan 系統(tǒng)給出錯(cuò)誤信息“所選速度無法設(shè)置在 0.01% 以內(nèi)!"這是什么意思?

這意味著電機(jī)無法將轉(zhuǎn)速設(shè)定在 0.01% 的精度范圍內(nèi)。這通常意味著電機(jī)磨損,或者某種原因?qū)е码姍C(jī)無法以恒定速度旋轉(zhuǎn)。這通常需要將系統(tǒng)送回工廠進(jìn)行檢查和維修。

硅探測(cè)器狹縫掃描式光束輪廓分析儀

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